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射频导纳物位开关测量原理
射频导纳物位开关
测量原理
射频导纳物位开关控制技术是一种从电容式物位控制技术发展起来的,防挂料(传感器粘附之物料称为挂料)性能更好、工作更可靠、测量更准确、适用性更广的物位控制技术,“射频导纳”中 “导纳”的含义为电学中阻抗的倒数,它由阻性成份、容性成份、感性成份综合而成,而“射频” 即高频,所以射频导纳技术可以理解为用高频电流测量导纳的方法。
射频导纳物位开关对于传感器上的粘附物料称为挂料影响问题,采用一种新的传感器结构,五层同心结构,见图 1传感器结构:*里层是中心探杆,中间是屏蔽层,*外面是接地的安装螺纹,用绝缘层将其分别隔离起来。与同轴电缆的情况是一样的,中心探杆与屏蔽层之间没有电势差,即使传感器上挂料阻抗较小,也不会有电流流过,电子仪器测量的仅仅是从传感器中心到对面罐壁(地)的电流,因为屏蔽层能阻碍电流沿传感器返回流向容器壁,因而对地电流只能经传感器末端通过被测物料到对面容器壁。
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